Μέτρηση τραχύτητας επιφάνειας

MG-OPTICS Πλατφόρμα οπτικής μετρολογίας υψηλής ακρίβειας
Δυνατότητα δοκιμής ακραίας ακρίβειας : Η ακρίβεια των δοκιμών μπορεί να φτάσει σε επίπεδα υπο-νανομέτρου, με επαναληψιμότητα καλύτερη από 0,06nm. Μπορεί επίσης να ανιχνεύσει τα αποτελέσματα της βαρύτητας, του στρες, των κραδασμών και των διαταραχών του αέρα.
Δυνατότητα δοκιμής επιφάνειας πολλαπλών μετατροπών : Για εξαρτήματα μιας επιφάνειας, μπορεί να μετρήσει την επιφανειακή ακρίβεια των οπτικών, οπτικών ασφαιρικών επιφανειών καθρέφτη και ελεύθερης μορφής, με μεγέθη έως 2 μέτρα ή περισσότερο. Για τα εξαρτήματα πολλαπλών επιφανειών, μπορεί να ανιχνεύσει την επιπεδότητα, τον παραλληλισμό, την κάθετη και άλλες γεωμετρικές ανοχές και να παρέχει καθοδήγηση επεξεργασίας και βελτιστοποίησης δεδομένων για την κατασκευή. Για την τραχύτητα της επιφάνειας, η ακρίβεια των δοκιμών είναι καλύτερη από 0,08 nm.

Συμβολόμετρο λευκού φωτός (ZYGO) Newview 9000

Αντικατοπτρίζοντας την τραχύτητα της επιφάνειας, το ύψος των βημάτων, τις διαστάσεις των κρίσιμων τμημάτων και τη μορφολογία του δείγματος που βασίζεται στην τεχνική παρεμβολής λευκού φωτός.
Η ακρίβεια μέτρησης της επιφάνειας καλύτερη από 0,08 nm.
Ακρίβεια μέτρησης βημάτων ≤ 0,75%.

Επαναληψιμότητα ≤ 0,1% @ 1σ.
Επαναληψιμότητα RMS: <0.005nm @ 1σ.
Με 1x, 0.5x, 2x προσοφθάλματα.
Με 10x, 20x, 50x αντικειμενικοί φακοί.

Για περισσότερες πληροφορίες σχετικά με τις υπηρεσίες μέτρησης της οπτικής επιφάνειας, μην διστάσετε να επικοινωνήσετε με τους εμπειρογνώμονες της οπτικής μετρολογίας.